HST-S系列 50N～5000N.1500mm/min高速试验机系统 悬臂式
作者 Ming
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发布时间 15/10/27
 HST-S系列;50N～5000N.1500mm/min高速试验机系统(悬臂结构)(CE CUL/CSA)
→50N～5000N.High-speed Testing Machine(Cantilever)(Single Column System)(CE CUL/CSA)；
→1500mm/min.High-speed Testing Machine(Cantilever)(Single Column System)(CE CUL/CSA)；
重要功能：
→材料、零件、部件、构件等金属材料、非金属材料、合金材料、复合材料在室温环境下进行高速拉伸试验、高速压缩试验，对材料力学性能进行实验测试及研究。
→高速拉-拉试验、高速拉-压试验、高速快压试验、高速循环试验。
→薄板、板材、带材、箔材、扁材、线材、棒材、型材、管材、薄片、方形、圆形、矩形、圆环形、铸铁、铸铁非铁合金、管段试样、比例试样、非比例试样、全壁厚纵向剖条试样、全壁厚横向剖条试样、矩形横截面试样、圆形横截面试样。
→各种薄金属、丝材、细线、纤维、弹性体、泡沫材料性能试验。
→纺织、食品、药品、化妆品、橡胶、塑料、薄膜、生物材料性能试验。
→电子部件的拉脱、剥离、焊接强度试验。
→印刷电路板的剥离、弯曲强度、紧固件性能试验。
→木制品、纸产品、胶片样品的拉伸试验。
→应力松弛试验及粘合剂强度试验。
重要特点：
→人体工程学设计，机宜人、人适机，符合人-机-环境系统，高效、健康、舒适、安全。
→精密无间隙滚珠丝杠，防跳动、防振动、高刚性、高稳定性的三柱悬臂载荷机架，机架尺寸可定制。
→高精度测力传感器，线性宽，稳定性好，保证载荷的测力精度。
→高速率、低振动、免维护、静音型交流伺服电机驱动系统。
→电路板采用光电隔离设计，具有抗干扰能力强的特点。
→内置以太网接口；方便的手持控制器，即停即行功能；操作灵活、随意切换。
→多种完善的试验夹具，快速更换；可选T型工作台、防旋转夹具/附件装置、环境系统、引伸计。
→宽泛的测试速度0.0001～1500mm/min（60in/min）（可定制6000mm/min高速试验机系统）。
→高速启动、高速停止、高速拉伸、高速快压、高速循环。
→高速试验防冲击保护，特殊设计，保证高速运行中测力传感器不受过载冲击。
→内置式全数字闭环、多通道、多功能、易操控的HRJ-Test测控软件；多种标准方法（国标、英标、美标、德标、日标、意标、俄标、法标、澳标、欧标等/GB、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、NF、EN、AS、NBR)。
→试验过程的自动控制、数据采集、处理、分析、存储及显示。
→载荷自动保持、应力、应变控制、循环控制及自编程控制等多种控制方式。
→控制模式智能设置，控制方式之间无冲击、平滑切换，加载、卸载平稳。
→过程再现和数据再分析、曲线放大、比较、遍历；曲线可自由放大和缩小；满度自调。
→操控软件，采用模块化、开放式编程、个性化设计，可自行调整。
→标准模块：权限管理模块、试验模块、控制模块、分析模块、查询模块、输出模块等。
→操作提示和向导功能。
→灵活的Excel或Word报告格式，可选择、指定、排序、单独、合并、多类型输出。
→网络数据库管理，可与多家联网公司直联。
→试验结束自动返回，智能、高效、快捷。
→多重保护功能：试验力过载保护；过流、过压保护；试样破断时安全保护；试验结束自动保护等。
重要参数：
→高速拉压试验载荷容量：50N/100N/200N/500N/1000N/2000N/5000N；
→高速拉压试验速度：0.0001～1500mm/min（60in/min）；
→高速拉压试验速度：0.0001～1000mm/min（40in/min）；
→中高速拉压试验速度：0.001～700mm/min（28in/min）；
→中高速拉压试验速度：0.001～600mm/min（24in/min）；
→高速试验启动时间：0～1500mm/min/0.3s；
→高速试验停止时间：1500mm/min～0/0.3s；
→高速速度精度：±0.2%；
→高速位置分辨力：0.033μm；
→试验载荷精度：显示值的±0.5%（范围0.2%～100%F.S）；
→试验采集频率：1000Hz(10Hz～1000Hz可自设分点)；
→可选标准机柜(计算机、测控系统一体化集成)；
→可选旋转式计算机操控系统Computer Control System(CCS)；
→可选触屏操控系统Touch Screen System(TSS)；
产品扩展：
→HST-D系列;6000mm/min高速拉伸试验机系统High-speed Testing Machine(Gate-type Double Column System)(CE CUL/CSA)；
→100N/200N/500N/1000N/2000N/5000N/10kN/20kN/30kN/50kN/100kN.2000mm/min中高速电子万能试验机Medium High speed Electronic Universal Testing Machine(Gate-type Double Column System)(CE CUL/CSA)；
→200kN/300kN.1000mm/min中高速电子万能试验机Medium High speed Electronic Universal Testing Machine(Gate-type Double Column System)(CE CUL/CSA)； |